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12.12.2016 - New semester- and master theses available for FS17

22.12.2016 - The publication "Positive charge trapping phenomenon in n-channel thin-film transistors with amorphous alumina gate insulators" (Journal of Applied Physics) written by A. Daus et. al. is now available online.

 

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© 2017 ETH Zurich | Imprint | 26 January 2017
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